میکروسکوپ TEM امواج گیگاهرتزی را روی سیلیکون رصد میکند
میکروسکوپ TEM امواج گیگاهرتزی را روی سیلیکون رصد میکند
سه فیزیکدان ریکن (RIKEN) به بررسی پتانسیل یک شکل فوقالعاده سریع از میکروسکوپ الکترونی عبوری برای اندازه گیری امواج صوتی در نانوساختارها پرداختند. این نتایج میتواند به تحقق یک روش تصویربرداری با وضوح بالا که از امواج صوتی با فرکانس فوقالعاده بلند استفاده میکند، کمک کند.
سونوگرافی به طور معمول در کلینیکها و بیمارستانها برای تصویربرداری از اندامهای داخلی و نوزادان در رحم استفاده میشود. امواج صوتی مورد استفاده میتوانند ساختارهای بسیار کوچک را شناسایی کنند.
comment